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고속 변위 측정의 결정판! 차동형 광섬유 변위계!
좁고 깊은 곳의 변위를 고속·고해상도로 측정할 수 있습니다!
프로브를 측정 위치에 접근하는 것만으로 고속 미소 변위의 측정이 가능합니다.
번거로운 공작물의 반사율 보정은 필요하지 않습니다.
플러그인 모듈 ATP203이 새롭게 등장! 응답성과 분해능이 더욱 UP되었습니다.
ATW200의 특징
■ 3MHz의 고속 응답! 압전 소자나 고속 진동 현상의 해석에 최적
■ nm의 초 고해상도를 실현 : 속도가 아닌 진정한 변위 측정이므로 저주파의 미소 변위도 놓치지 않습니다
■ 가변 저역 통과 필터로 최적의 응답 속도와 해상도를 얻을 수 있습니다
■ 투명체의 측정에 대응
■ 워크에 접근시켜, 1회만 반사율 보정 실시 : 측정 물의 반사율 변화의 영향을 제거
앰프 유닛 | |
형식 | ATW200 |
---|---|
공식 | 차동형 광섬유 방식 |
응답성(Hz) 설정 응답 주파수 | 100, 1K, 10K, 100K, 1M, PASS (3M) |
가변 배율 | 1배, 2배, 5배, 10배, 20배, 50배 |
표시 | 4 · 1/2 자리 디지털 전압 표시 |
아날로그 출력 | -10~+10V |
전원 전압 | DC24V 1.2A AC 어댑터 부속 (AC100~240V 50/60Hz) |
사용환경 | 0~+45℃ +20~+85%RH(결로 없을 것) |
플러그인 모듈 | |||
모듈 No. | ATP201 | ATP202 | ATP203 |
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광원 | SLD (슈퍼 루미네센트 다이오드) (λ=830nm) | ||
섬유 프로브 길이 | 1m (표준) | ||
팁 프로브 외형 (mmφ) | 1.2 | 3.0 | 1.2 |
프로브 팁 내열 온도* | 0~150℃ | 0~70℃ | 0~150℃ |
측정 스폿 지름 (mmφ) | 약 0.3 | 약 1.5 | 약 0.3 |
측정 범위(μm) | 약 20 | 약 300 | 약 12 |
작동 거리 (μm) | 약 80 | 약 700 | 약 50 |
기본 감도 (μm/V) | 약 2 | 약 30 | 약 1.3 |
*정밀도를 보증하는 것은 아닙니다. |
분해능의 예(측정 대상물이 블록 게이지인 경우) | |||
컷오프 주파수 | ATP201 분해능(nm rms ) | ATP202 분해능(μm rms ) | ATP203 분해능(nm rms ) |
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3MHz | 12 | 1.2 | 2.5 |
1MHz | 7 | 1 | 2.3 |
100kHz | 1.6 | 0.3 | 1.0 |
10kHz | 0.7 | 0.2 | 0.5 |
1kHz | 0.6 | 0.2 | 0.4 |
100Hz | 0.5 | 0.2 | 0.3 |
분해능은 측정 대상물의 반사율에 따라 달라집니다. |
● 파이버 프로브 길이 연장, 선단 굽힘 가공 등 특주 사양의 파이버 프로브도 제작 가능합니다. 상담해 주십시오.
● 위의 특성은 평균 수치를 나타냅니다. 프로브 제작상의 편차에 의해 차이가 발생할 수 있습니다
외형치수
이미지
측정 대상물에 측정 프로브를 접근시켜 반사율 교정 SW를 ON합니다. 디스플레이에서 수치가 사라지고 교정 모드가 됩니다. 디스플레이의 지시에 따라 측정 갭을 지정된 범위에 맞춥니다. 교정이 끝나면 자동으로 측정 모드로 돌아가고 디스플레이에 숫자가 표시됩니다. 반사율의 조건은 내부에 보존되므로 동일한 워크라면 측정도에 교정할 필요는 없습니다.
측정 프로브 팁을 측정 대상에 가깝게 놓습니다. 미동이 가능하도록 미동 스테이지를 설치하는 것이 좋습니다.
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